사업계획부터 완료보고까지 방대한 노하우로 확실하게! ICT 융합 스마트공장 보급사업 도입기업 모집
업종마다 다른 공정 구조, 규제 환경, 품질 기준에 맞춰 이엠포커스 솔루션을 어떻게 구성하고 활용하는지 안내합니다.
태양광 제조는 도핑·소성 등 각 공정 파라미터의 편차가 셀 변환 효율에 직접 영향을 미칩니다. 고객사는 납품 모듈의 등급·효율 이력과 필드 불량 발생 시 제조 이력 기반 분석 자료를 요구합니다. 데이터 투명성과 등급 분류 정확도가 가격 경쟁력을 대체할 수 있는 핵심 차별화 요소입니다. TQ-DataBox의 RQ 상관분석으로 공정 조건과 셀 효율의 상관관계를 정량적으로 분석합니다.
EL·IV 측정 데이터는 장비별 소프트웨어에 저장되어 생산 이력과 연결되지 않습니다. 품질 이상 발생 시 원인 공정 추적이 수작업으로 이루어집니다. 셀 등급 분류 기준이 전산화되지 않으면 담당자마다 판정이 달라집니다. 셀→모듈 계보가 없으면 필드 불량 발생 시 원인 셀 특정이 불가능합니다.
EL/IV 측정 데이터 미연계
EL·IV 측정 데이터가 생산 이력과 연결되지 않아 원인 추적이 수작업으로 이루어집니다.
셀 등급 분류 기준 불일치
등급 분류 기준이 전산화되지 않아 담당자마다 판정이 달라집니다.
공정 수율 분석 데이터 부재
어느 공정·파라미터에서 수율이 떨어지는지 데이터 없이는 파악할 수 없습니다.
셀에서 모듈까지의 계보 미구축
필드 불량 발생 시 원인 셀 특정이 불가능합니다.
TQ-MES
셀에서 모듈까지의 계보 추적
셀 계보와 모듈 조립 이력을 연계하고 LOT를 정·역방향으로 추적합니다. 4M·PPAP 정보 통합으로 필드 불량 역추적을 지원합니다.
TQ-LIS
EL/IV 자동 수집 · 등급 판정
LAS 기반 EL·IV 측정 장비를 자동 연계해 데이터를 수집합니다. 통계적 이상 자동 판정으로 셀 등급 기준을 전산화하고 성적서를 자동 발행합니다.
TQ-DataBox
공정 파라미터 빅데이터 분석
도핑·소성 등 공정 파라미터 데이터를 수집합니다. RQ 상관분석·Worst 선정으로 수율 저하 원인을 특정하고 클레임을 예측합니다.
Tw-inSight
AI 수율 최적화 · 디지털트윈
공정 파라미터-셀 효율 상관분석과 시뮬레이션 기반 최적 도핑·소성 조건을 추천합니다. 공정 전체를 대시보드로 가시화합니다.
EL·IV 측정 장비와 생산 이력 간의 연계 현황을 파악합니다. 셀 등급 분류 기준의 전산화 범위와 계보 구조를 정의합니다.
셀부터 모듈 조립까지 계보를 연결합니다. LOT 정·역방향 추적으로 필드 불량 발생 시 원인 셀을 즉시 특정합니다.
EL·IV 측정 장비를 LAS로 자동 연계하고 셀 등급 판정을 전산화합니다. RQ 상관분석으로 공정 파라미터와 효율의 상관관계를 정량화합니다.
공정 시뮬레이션으로 최적 도핑·소성 조건을 추천합니다. 수율 연속 개선 체계를 구축해 가격 경쟁력을 확보합니다.
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