업종마다 다른 공정 구조, 규제 환경, 품질 기준에 맞춰 이엠포커스 솔루션을 어떻게 구성하고 활용하는지 안내합니다.
반도체·전자부품은 단일 공정에서 수천 개의 변수가 품질에 영향을 미칩니다. 불량 1건을 추적하기 위해 수백 단계의 공정 이력이 필요하고, 고객사의 품질 요구는 ppm 단위로 높아지고 있습니다.
데이터는 충분히 만들어지고 있습니다. 문제는 그 데이터가 시스템 간에 연결되지 않아 이상 감지가 늦고, 감사 대응이 수작업으로 남아 있다는 점입니다.
설비 이상이 불량으로 이어지고, 불량은 최종 검사 또는 고객사 인라인에서 발견됩니다. 측정 데이터는 장비별로 분산되어 있고 통합 경보 체계가 없습니다.
LOT 계보는 공정 간 시스템이 달라 수작업으로 재구성해야 합니다. 고객사 SQM 대응 보고서(8D, FAI 등) 준비에 감사마다 수일이 소요됩니다.
실시간 공정 이상 미감지
설비 이상이 최종 검사 또는 고객사 인라인에서야 발견됩니다.
LOT 추적성 단절
공정 간 시스템이 달라 LOT 계보를 수작업으로 재구성해야 합니다.
SPC 데이터 분산
측정 데이터가 장비별로 분산되어 통합 경보 체계가 없습니다.
고객사 품질 증적 준비 부담
감사마다 8D·FAI 증적을 수작업으로 취합하는 구조가 반복됩니다.
TQ-MES
LOT 추적 · 생산 실행
주문부터 출하까지 정·역방향 LOT 이력을 단일 시스템으로 추적합니다. Control Plan 연계 작업표준과 바코드·PLC 기반 실적 자동 수집을 지원합니다.
TQ-LIS
SPC · 인라인 검사 통합
LAS 기반 검사 장비 자동 연계로 측정값을 실시간 수집합니다. Xbar-R·I-MR 관리도 자동 생성과 Cp/Cpk 공정능력 분석을 제공합니다.
Tw-inSight
AI 실시간 공정 이상감지
설비·공정 데이터를 디지털트윈으로 실시간 재현하고 이상 징후를 자동 감지합니다. 예측 기반 예지보전으로 비계획 정지를 최소화합니다.
FMEA360
PFMEA · 리스크 관리
고객사 PPAP 준용 요구에 대응하는 D-FMEA·P-FMEA·Control Plan을 통합 관리합니다. ERP·MES·QMS 연동으로 BOM 기반 살아있는 FMEA를 운영합니다.
공정별 데이터 발생 지점과 시스템 간 연계 현황을 파악합니다. LOT 단절 구간과 SPC 공백을 정확히 짚어냅니다.
주문부터 출하까지 단일 시스템으로 연결합니다. Control Plan 연계 작업표준과 PLC 실적 자동 수집을 동시에 구성합니다.
인라인 측정 장비를 LAS로 자동 연계하고 관리도를 실시간으로 운영합니다. 이상 발생 즉시 알람 체계를 구축합니다.
축적된 공정 데이터를 기반으로 디지털트윈을 구현합니다. 이상 징후 예측과 예지보전으로 품질 안정화를 완성합니다.
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